金融界2025年7月28日消息,国家知识产权局信息显示,力晶积成电子制造股份有限公司申请一项名为“半导体结构的制造方法”的专利,公开号CN120376513A,申请日期为2024年02月。
专利摘要显示,本发明公开一种半导体结构的制造方法,包括以下步骤。提供基底。基底包括切割道区与元件区。在基底上形成介电结构。在元件区的介电结构中形成内连线结构。在介电结构上形成保护层。对保护层与介电结构进行图案化,而在切割道区的介电结构中形成划片沟槽,且在元件区的介电结构中形成开口。在划片沟槽与开口中以及保护层上形成隔离材料层。在划片沟槽中的隔离材料层上形成光致抗蚀剂层。对隔离材料层进行第一回蚀刻制作工艺,而在划片沟槽中形成第一隔离层,且在开口中形成第二隔离层。第一隔离层覆盖由划片沟槽所暴露出的介电结构的表面。移除光致抗蚀剂层。
来源:金融界