金融界2025年8月6日消息,国家知识产权局信息显示,弘润半导体(苏州)有限公司申请一项名为“一种用于高密度封装芯片的缺陷检测方法”的专利,公开号CN120427657A,申请日期为2025年04月。
专利摘要显示,本发明公开了一种用于高密度封装芯片的缺陷检测方法,涉及半导体检测技术领域,包括,对高密度封装芯片进行预处理;利用多光谱成像设备,对预处理后的高密度封装芯片进行成像,获得多光谱成像的图像组;采用基于Haar小波的离散小波变换技术先进行多级分解,再进行阈值化处理,获得稀疏表示的多光谱成像的图像组;基于压缩感知技术对稀疏表示的多光谱成像的图像组进行压缩感知,获得压缩感知后的多光谱成像的图像组;对压缩感知后的多光谱成像的图像组进行标注,并将RGB输入的视觉Transformer模型改造为多波段输入的视觉Transformer模型,对多通道输入的视觉Transformer模型进行训练。
天眼查资料显示,弘润半导体(苏州)有限公司,成立于2020年,位于苏州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析,弘润半导体(苏州)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目12次,财产线索方面有商标信息4条,专利信息90条,此外企业还拥有行政许可9个。
来源:金融界