晶艺半导体取得芯片等效阻抗测试专利，可快速准确测量等效阻抗
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2026-01-10 16:08:26
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国家知识产权局信息显示，晶艺半导体有限公司取得一项名为“一种芯片的等效阻抗测试电路”的专利，授权公告号CN223784429U，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本实用新型提供了一种芯片的等效阻抗测试电路，用于测试待测芯片第一引脚和第二引脚之间的等效阻抗，测试电路包括：基准芯片、第一误差放大器、第二误差放大器、第三误差放大器和参数计算模块。其中，以基准芯片为参考，获取待测芯片的测量信号与基准芯片的测量信号之间的误差，进而通过误差与待测芯片等效阻抗的对应关系，直接解算出待测芯片的等效阻抗。本实用新型提出的芯片等效阻抗测试电路和方法能够快速、准确地测量待测芯片的等效阻抗，进而反映待测芯片的电阻、电容、电感值，而且可基于同一测试电路分别测量阻性器件、感性器件和容性器件。本公开的测量精度高，电路结构简单且易于实现，尤为适用于集成电路测量测试。
天眼查资料显示，晶艺半导体有限公司，成立于2019年，位于成都市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本5333.4111万人民币。通过天眼查大数据分析，晶艺半导体有限公司参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息123条，此外企业还拥有行政许可3个。
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来源：市场资讯
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