武汉高芯科技申请红外芯片读出电路故障检测方法专利，可实现红外芯片读出电路的无损故障检测_电池资讯

武汉高芯科技申请红外芯片读出电路故障检测方法专利，可实现红外芯片读出电路的无损故障检测

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2026-02-02 15:10:11

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国家知识产权局信息显示，武汉高芯科技有限公司申请一项名为“一种红外芯片读出电路的故障检测方法及系统”的专利，公开号CN121430833A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明涉及一种红外芯片读出电路的故障检测方法及系统，其包括如下步骤：对红外芯片读出电路施加偏置电压，并在施加偏置电压的同时，获取红外芯片读出电路的红外图像；根据红外图像以及红外芯片读出电路的设计版图，将红外图像中的故障区域与设计版图中的元器件布局区域进行匹配，以在设计版图上确定疑似故障元器件的位置；在红外芯片读出电路上确定与疑似故障元器件的位置信息对应的实物元器件，并对实物元器件进行故障检测。本发明通过结合红外芯片读出电路的红外图像以及设计版图，以快速、准确对纳米级尺寸元器件的故障位点进行定位和检测，可实现红外芯片读出电路的无损故障检测。

天眼查资料显示，武汉高芯科技有限公司，成立于2013年，位于武汉市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本33800万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉高芯科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目110次，财产线索方面有商标信息23条，专利信息429条，此外企业还拥有行政许可20个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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