众德兴科技申请发光二极管外延片缺陷检测方法及装置专利，提高了外延片到位精度
创始人
2026-02-06 18:41:49
0次
国家知识产权局信息显示，深圳市众德兴科技有限公司申请一项名为“一种发光二极管的外延片缺陷检测方法及装置”的专利，公开号CN121446731A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及缺陷检测技术领域，公开了一种发光二极管的外延片缺陷检测方法及装置。该方法：S1：将外延片投入进料管并启动驱动装置驱动推送机构，通过调节驱动装置将外延片推送至检测位置；S2：通过传动组件带动传动齿轮系统啮合，驱动间歇传动机构与从动齿轮间歇啮合，使升降驱动机构旋转驱动检测块弹簧加载下降接触外延片；S3：测量检测块底面高度并计算外延片厚度；S4：基于外延片厚度与标准厚度确定缺陷检测结果，并根据缺陷检测结果控制分拣执行机构分区存放。本发明抑制了启停冲击振动，降低了推送位置误差，提高了外延片到位精度。
天眼查资料显示，深圳市众德兴科技有限公司，成立于2017年，位于深圳市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市众德兴科技有限公司专利信息17条，此外企业还拥有行政许可3个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
来源：市场资讯
相关内容
热门资讯
原创 手...
史上最猛手机涨价潮来了！ 据报道，自2026年3月起，中国手机市场将迎来有史以来首次全品类、全品牌...
大族数控取得电路板超短槽孔加工...
国家知识产权局信息显示，深圳市大族数控科技股份有限公司取得一项名为“电路板超短槽孔加工方法及加工设备...
爱士惟取得H5型非隔离光伏逆变...
国家知识产权局信息显示，爱士惟科技股份有限公司取得一项名为“H5型非隔离光伏逆变器的共模电流控制方法...
金禄电子：公司PCB应用领域广...
证券之星消息，金禄电子(301282)03月02日在投资者关系平台上答复投资者关心的问题。 投资者提...
方正科技申请阶梯金手指电路板制...
国家知识产权局信息显示，珠海方正科技多层电路板有限公司;珠海焕新方正科技有限公司申请一项名为“用于制...
工业生产优选｜常州创稳三相10...
在工业生产智能化升级的背景下，电压波动已成为影响精密设备精度、生产线连续性的关键痛点。机床加工的刀具...
ROHM罗姆与印度Suchi达...
IT之家 3 月 3 日消息，日本半导体厂商 ROHM 罗姆今日宣布与印度企业 Suchi Semi...
弘润半导体申请半导体芯片堆叠检...
国家知识产权局信息显示，弘润半导体（苏州）有限公司申请一项名为“一种用于检查半导体芯片产品堆叠的方法...
与光科技取得光谱芯片随机形状单...
国家知识产权局信息显示，北京与光科技有限公司取得一项名为“光谱芯片中随机形状单元的生成方法、装置及光...
【苹果】4799起 M4芯片款...
据苹果CEO库克预热，本周苹果将带来多款新品，昨日晚间苹果率先发布了全新iPhone 17e和M4芯...