证券之星消息,根据天眼查APP数据显示晶合集成(688249)新获得一项发明专利授权,专利名为“半导体测试结构及测试方法”,专利申请号为CN202610243473.7,授权日为2026年6月19日。
专利摘要:本申请提供了一种半导体测试结构及测试方法,属于半导体技术领域,用于同时对N个器件进行反向击穿电压测试,所述N个器件中的每一个均包括PN结、与所述PN结的两端连接的第一端口及第二端口,N为大于或等于2的整数,所述半导体测试结构包括:第一焊盘,连接至所述N个器件中的每一个的第一端口,用于施加电压;N个电阻,与所述N个器件一一对应,每个所述电阻的一端连接对应器件的第二端口,且N个所述电阻的阻值各不相同;第二焊盘,连接至N个所述电阻的另一端,用于获得电流。本申请可提高半导体测试的效率及降低测试成本。
今年以来晶合集成新获得专利授权241个,较去年同期增加了39.31%。结合公司2025年年报财务数据,2025年公司在研发方面投入了14.53亿元,同比增13.2%。
通过天眼查大数据分析,合肥晶合集成电路股份有限公司共对外投资了13家企业,参与招投标项目645次;财产线索方面有商标信息76条,专利信息1699条,著作权信息12条;此外企业还拥有行政许可27个。
数据来源:天眼查APP
以上内容为证券之星据公开信息整理,不构成投资建议。