国家知识产权局信息显示,上海芯高峰微电子有限公司申请一项名为“存储器使用寿命测试方法及系统”的专利,公开号CN122738574A,申请日期为2026年7月。
专利摘要显示,一种存储器使用寿命测试方法及系统。所述方法包括:确定待测存储器的各测试接口组,同一测试接口组包括可共享同一测试资源的若干数据接口;将测试接口组与测试资源一一对应连接,以对所述待测存储器进行使用寿命测试。采用上述方案,通过将待测存储器的数据接口分成多个测试接口组,该测试接口组包括可共享同一测试资源的若干数据接口,由此可以将测试接口组与测试资源一一对应连接,也即将同一测试接口组与同一测试资源连接,从而利用同一测试资源实现对该测试接口组内多个数据接口的测试,从而可以减少测试资源的使用数量。
天眼查资料显示,上海芯高峰微电子有限公司,成立于2021年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本75000万人民币。通过天眼查大数据分析,上海芯高峰微电子有限公司参与招投标项目1次,专利信息28条,此外企业还拥有行政许可4个。
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来源:市场资讯